ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Рассмотрена структура фоторефрактивной решетки в тонкой пластине электрооптического кристалла. Показано, что наличие нормальных к границам пластины упругих смещений приведет к изгибной деформации пластины. Исследовано влияние толщины пластины, электрических условий на границах образца на структуру решетки.