|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Effect of trap saturation on surface structure on photorefractive gratingдоклад на конференции
- Авторы: Sukhoverkhov Yu M., Zhnykina M.A., Shandarov S.M., Kirillov A.M.
- Международная Конференция : 2002 6th International conference on actual problems of electronic instrument engineering proceedings (APEIE-2002)
- Даты проведения конференции: 23-26 сентября 2002
- Дата доклада: 24 сентября 2002
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Новосибирск, Russia
-
Аннотация доклада:
Предложена теоретическая модель, описывающая в стационарном режиме структуру фоторефрактивной решетки в электрооптических кристаллах симметрии 4mm и 6mm с учетом насыщения ловушек в отсутствие внешнего электрического поля. На ее основе проведен расчет поверхностной структуры фоторефрактивной решетки в кристалле BaTiO3.
- Добавил в систему: Кириллов Андрей Михайлович