ИСТИНА

Синтез структурно-совершенных кристаллов алмаза и исследование их оптических свойств является актуальной научно-технической задачей [1]. Эллипсометрия нередко применялась для неразрушающего контроля толщины и морфологии поверхности пленок синтетических алмазов [2, 3]. Как показывает наш опыт, этот метод, основанный на поляризационных измерениях [4], может быть использован и для изучения спектральных зависимостей оптических характеристик синтетических алмазов. 1. Мудрый А.В., Ларионова Т.П., Шакин И.А., Гусаков Г.А., Дубров Г.А., Тихонов В.В. // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 3. Вып. 5. С. 538–542. 2. Thomas E.L.H., Mandal S., Ahmed A.-I., Macdonald J.E., Dane T.G., Rawle J., Cheng C.-L., Williams O.A. // ACS Omega. 2017. V. 2 P. 6715−6727. 3. Handbook of Industrial Diamonds and Diamond Films / Ed. by M.A. Prelas, G. Popovici, L.K. Bigelow. NY: Marcel Dekker Inc., 1998. 4. Швец В.А., Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Михайлов Н.Н. // Российские нанотехнологии. 2009. Т. 4. № 3. С. 72–84.