|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Comparison of charge kinetics of dielectrics subjected to Preliminary electron or ion irradiationдоклад на конференции
- Авторы: Rau E.I., Tatarintsev A.A., Haidarov A.A., Khvostov V.V., Ivanenko I.P., Zykova E.Yu
- Международная Конференция : XXIII International Conference Ion – Surface Interactions «ISI – 2017»
- Даты проведения конференции: 21-25 августа 2017
- Дата доклада: 24 августа 2017
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Zykova E.Yu
- Место проведения: Russia
-
Аннотация доклада:
The electron beam charge kinetics of Al2O3 and SiO2 has been studied by scanning electron microscope. It has been found a large difference in kinetics for the initial dielectric samples in comparison with the samples pre-irradiated by electrons and ions. This difference can be explained by radiation-induced defect formation. It has been shown a strong influence of the surface structure modification and changes in the electrical characteristics of the surface, in particular the charge spreading.
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Особенности вторичной эмиссии заряженных и нейтральных частиц из металлов и полупроводников. Квантовый и синергический эффекты.
- Модификация и анализ поверхности ионным облучением и электронная микроскопия
- Добавил в систему: Татаринцев Андрей Андреевич