ИСТИНА

В ходе работ по Государственному контракту №02.513.12.30.23 «Разработка микро- и наноструктурированных оксидных материалов для элементов управления электромагнитным излучением» созданы следующие лабораторные образцы наноструктурированных материалов: фотонно-рефрактивные волокна, комплексные оксиды (стёкла) с управляемым изменением химического состава по объему, композитные материалы на основе оксидов А1203, Ti02, Zr02, a также дифракционные нанорешетки. Фотонно-рефрактивные волокна (для терагерцового, видимого и рентгеновского диапазонов длин волн) характеризуются плотностью 2,5 ■*■ 3,0 г/смЗ, длиной 23 ■* 30 см, числом трубочек от 100300 до 800000, угол поворота Зо + 12о (Х=0,25 нм ■*■ 0,3 нм), диаметр внутреннего канала 0,68 мкм + 70 мкм; в оптическом диапазоне угол поворота не ограничен, а эффективность пропускания составляет 50,1% + 56,1%, при этом коэффициент пропускания обладает спектральной селективностью. Комплексные оксиды (стекла) (для рентгеновского диапазона длин волн - 0,05 нм + 0,01 мкм) характеризуются коэффициентом преломления 5 -2,8-10-6 ■*■ -4,8-10-5, коэффициентом поглощения у в диапазоне длин волн от 0,05 нм до 0,25 нм 5,3-10-9 ■* 5,5-10-5, толщиной внешнего слоя до 100 нм. Наноструктурированные и композитные материалы на основе оксидов А1203, ТЮ2, Zr02 для видимого и терагерцового диапазонов длин волн (от 0,1 мкм до 300 мкм) характеризуются высокой (от 50% до 90%) пористостью структуры с характерными размерами пор от 5 нм до 1 мкм. Дифракционные нанорешетки на основе оксида алюминия характеризуются протяженностью структуры 3 см ^ 5 см и периодом следования нанонитей 30 нм + 400 нм. Композитные материалы на основе оксидных нанофибрилл А1203, оксидные гетероструктуры характеризуются объемной концентрацией включений от 10-3 до 10-5. Разработан пакет математических программ для расчета отражения электромагнитного излучения видимого диапазона от дифракционных нанорешеток. Разработанные материалы представляют значительный интерес с точки зрения создания на их основе элементов, позволяющих управлять параметрами пучков (угловыми и спектральными характеристиками) электромагнитного излучения в широком диапазоне длин волн (от 0,05 нм до 50 мкм).