|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
In situ near-field and far-field investigations of soft X-ray lasers beam properties by submicron-resolution LiF X-ray detectorдоклад на конференции
- Авторы: Pikuz T., Kando M., Fukuda Y., Tanaka M., Ishino M., Hasegawa N., Nishikino M., Ohashi H., Yabashi M., Tono K., Senba Y., Togashi T., Ishikawa T., Mitrofanov A., Vinogradov A., Astapov A., Klushin G.D., Pikuz Jr S.A., Nagorskiy N.M., Magnitskiy S.A., Pirozhkov A.S., Esirkepov T.Zh, Koga J.K., Nakamura T., Bulanov S., Hayashi Y., Kotaki H., Kato Y., Kawachi М., Faenov A.
- Конференция : Conference on High Intensity Lasers and attosecond science in Israel (CHILI2012). Tel-Aviv, December 3-5, 2012 (Poster)
- Даты проведения конференции: 2012
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Добавил в систему: Магницкий Сергей Александрович