Особенности дифракции излучения на фрактальных нанодендритах - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Ружицкая Д.Д., Рыжикова Ю.В., Короленко П.В.
Международная Конференция : 10-я Международная конференция "Акустооптические и радиолокационные методы измерений и обработки информации"
Даты проведения конференции: 1-4 октября 2017
Дата доклада: 2 октября 2017
Тип доклада: Устный
Докладчик: не указан
Место проведения: Суздаль, Russia
Аннотация доклада:
В работе представлены результаты использования алгоритма построения наноденритов, образующихся в процессе самоорганизации наночастиц. Проведен анализ влияния статистических параметров модельных представлений на геометрию образующихся структур. Установлена с использованием фрактальной параметризации закономерность, определяющая связь между структурными особенностями нанодендритных кластеров и картинами дифракции зондирующего излучения.

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИПМех РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА