Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Количественный анализ наноструктуры аморфной фазы SiO2
доклад на конференции
Авторы:
Чернов М.С.
,
Юрковец Д.И.
,
Разгулина О.В.
,
Соколов В.Н.
Международная Конференция :
2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники
Даты проведения конференции:
9-12 октября 2017
Дата доклада:
10 октября 2017
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Чернов М.С.
не указан
Чернов М.С.
Юрковец Д.И.
Разгулина О.В.
Соколов В.Н.
Место проведения:
Зеленоград, Russia
Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
Разработка новых методик изучения грунтов, создания грунтов с заданными свойствами
Добавил в систему:
Чернов Михаил Сергеевич