Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Лазерные методы диагностики технологических сред в микроэлектронике.
доклад на конференции
Авторы:
Бартенев В.Я.
,
Пацаева С.В.
,
Чубаров В.В.
,
Федотов В.П.
,
Фадеев В.В.
,
Сивоволов В.А.
Всероссийская Конференция :
VI Респ. конф. молодых ученых и специалистов, 16-17 апреля, тезисы с.125-126.
Даты проведения конференции:
1987
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Сивоволов В.А.
не указан
Бартенев В.Я.
Пацаева С.В.
Чубаров В.В.
Федотов В.П.
Фадеев В.В.
Сивоволов В.А.
Место проведения:
Тбилиси
Добавил в систему:
Чубаров Василий Васильевич