![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Рассмотрены особенности квазитопографического картирования электрофизических свойств различных электродных материалов в конфигурации ex situ СТМ и возможности использования получаемой этим методом информации для оптимизации функциональных свойств материалов.