ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Серия кристаллов форстерита Cr: Mg2SiO4 легированного хромом, выращивались методом Чохральского из расплавов с различными отклонением от стехиометрии. Поляризованные спектры оптического поглощения кристаллов снимались в диапазоне 200-2000 нм. Проведен сравнительный анализ полученных данных для образцов, полученных из различных расплавов. В докладе представляются и обсуждаются обнаруженные тенденции изменения соотношения разновалентных форм хрома в кристаллах Cr-Fo по мере увеличения степени избытка MgO в расплавах, из которых они были выращены.