|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Some Peculiarities of Microhardness Testing of Thin DLC Films Deposited on Soft Substratesдоклад на конференции
- Авторы: Tolmachev Yu N., Ravi N., Varshavskaya I.G., Bukhovets V.L.
- Международная Конференция (Симпозиум) : Proceedings of 4th International Symposium on Diamond Films and Related Materials
- Даты проведения конференции: 20-24 сентября 1999
- Дата доклада: 24 сентября 1999
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Tolmachev Yu N.
- Место проведения: Харьков, Ukraine
-
Аннотация доклада:
Hardness testing of hard DLC films on soft substrats (Mo and Al)using ultra-microhardness technique has been performed. The procedure of mesurement results treatment giving more reliable values of thin film intrinsic microhardness has been discussed.
- Добавил в систему: Буховец Валентин Леонидович