|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Рентгеновская дифракция и электронная микроскопия для исследования неорганических соединенийучебный курс
- Авторы: Антипов Е.В., Лобанов М.В., Розова М.Г., Чижов П.С., Путляев В.И., Гаршев А.В.
- Год создания: 2015
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Данный курс направлен на достаточно углубленное изучение основных современных методов анализа структуры и состава твердофазных неорганических соединений и материалов. Курс состоит из двух частей: первая часть посвящена методам порошковой рентгеновской дифракции, вторая - электронной микроскопии. В рамках первой части курса предполагается изучение теоретических основ основных современных практических методов метода порошковой рентгеновской дифракции - основного метода исследования структуры неорганических материалов и анализа данных порошковой рентгеновской дифракции. Эта часть курса состоит из трех связанных блоков (модулей): блока 1 «Теоретические основы рентгеновской дифракции», в котором последовательно излагаются теоретические основы метода, включая необходимые основы кристаллохимии и физические основы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом; блока 2 «Методы порошковой рентгеновской дифракции», в котором рассматривается аппаратурное оформление метода и различные вопросы анализа дифрактограмм порошка, включая исследование пленок и покрытий, текстурный анализ и анализ микроструктуры, и блока 3 «Рентгеноструктурный анализ», где рассмотрено применение порошковой дифракции для структурного анализа, индицирование дифрактограмм, включая метод гомологии и методы полнопрофильного структурного анализа (метод Ритвельда). В рамках второй части курса предполагается изучение теоретических основ, различных модификаций метода электронной микроскопии, аппаратурного оформления и примеров решения типичных задач. Определенный акцент сделан на практические разделы: знакомство с современным приборным рядом и фирмами-производителями, тенденциями; иллюстрацию лекционного материала у реального электронного микроскопа. Тематически эта часть курса состоит из трех разделов, посвященных растровой электронной микроскопии, рентгеноспектральному микроанализу и просвечивающей электронной микроскопии.
- Добавил в систему: Путляев Валерий Иванович
Преподавание курса
- с 1 сентября 2015 Путляев Валерий Иванович
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Химический факультет, Кафедра неорганической химии
- обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 14 часов
- Авторы: Антипов Е.В., Лобанов М.В., Розова М.Г., Чижов П.С., Путляев В.И., Гаршев А.В.
- с 1 сентября 2015 Гаршев Алексей Викторович
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Факультет наук о материалах
- обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 28 часов
- Авторы: Антипов Е.В., Лобанов М.В., Розова М.Г., Чижов П.С., Путляев В.И., Гаршев А.В.