Описание:Излагаются физические основы самого мощного метода элементного анализа - масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС). Рассматриваются основные узлы спектрометра, процессы формирования ионов в аргоновой плазме, транспорта ионов в интерфейсе прибора и в масс-фильтре, рассказывается о различных типах детекторов ионов. Обсуждаются достоинства метода, а также его ограничения и проблемы при анализе сложных матриц. Подробно рассматриваются методы снижения или устранения матричных эффектов (влияния макро-компонентов образца на результаты определения микро- и следовых концентраций аналитов). Приводятся примеры решения конкретных аналитических задач с использованием ИСП-МС.