Описание:Целью курса является знакомство с современными возможностями методов исследования структуры и свойств материалов с использованием дифракции рентгеновских лучей, электронов, нейтронов и синхротронного излучения. Вводятся основные понятия симметрии кристаллических материалов, понятия обратного пространства, основных типов дефектов кристаллической структуры, основ кинематической и динамической теории дифракции рентгеновских лучей. Приводятся основные методы исследования структурно-фазовых характеристик моно- и поликристаллов, наноструктур, жидких и аморфных объектов. Подробно рассматриваются возможности исследования с использованием современных дифрактометров и методов обработки экспериментальных данных.
Рассмотрмваются возможности и особенности дифракции нейтронов, электронов и синхротронного излучения с целью исследования реальной структуры материалов.
Представлены основы высокоразрешающей электронной микроскопии, картины электронной дифракции от различных кристаллических объектов и их интерпретация.