|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Дифракционные методы исследования реальной структуры кристалловучебный курс
- Авторы: Авдюхина В.М., Бровкина Е.А.
- Год создания: 2022
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Типы конденсированных сред. Дифракционный анализ как метод определения атомной структуры вещества. Проблема «Состав-структура-свойства твердых тел». Методы изображения кристаллов и их элементов симметрии. Стереографические проекции. Сетка Вульфа. Стандартные проекции. Основные элементы симметрии и их сочетание. Элементы точечной и пространственной симметрии кристаллов. Точечные группы симметрии. Федоровские пространственные группы симметрии. Примеры кристаллических структур. Основные типы упаковки атомов в кристаллах. Коэффициент упаковки для решеток Бравэ. Типы кристаллических пустот. Аллотропия и полиморфизм. Дефекты в кристаллах. Влияние дефектов на свойства кристаллов. Природа, источники и спектр рентгеновского излучения. Рентгеновская трубка, синхротронное излучение.Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом. Рентгеновская флуоресценция. Поглощение рентгеновского излучения веществом. Фильтрация излучения. Основы кинематического приближения теории рассеяния рентгеновских лучей. Рассеяние на свободных электронах. Рассеяние атомом. Атомный фактор рассеяния. Рассеяние кристаллом. Интерференционная функция Лауэ.Понятие обратной решетки. Условие дифракции Вульфа-Брэгга в прямой и обратной решетках. Схема Эвальда. Ячейка Вигнера-Зейтца в обратном пространстве. Зоны Бриллюэна. Форм-фактор кристаллического объекта. Интенсивность рассеяния рентгеновского излучения. Структурная амплитуда.Законы погасаний рефлексов в сложной решетке. Влияние температуры и дефектов на интенсивность дифракционных максимумов. Основные методы рентгеноструктурного анализа. Метод Лауэ. Метод вращения. Дифракция на поликристалле. Метод Дебая-Шеррера. Квадратичные формы. Методы исследования образца с текстурой. Рентгеновская дифрактометрия. Коллимация и монохроматизация рентгеновского излучения. Основные типы фокусировок рентгеновского излучения (по Иоганну, по Иогансону). Регистрация рентгеновского излучения. Характеристики детекторов. Автоматизации сбора дифракционных данных и переход к цифровому представлению дифракционной картины. Особенности получения дифракционной картины в схемах Брэгга-Брентано и Зеемана-Болина. Основные характеристики современных порошковых дифрактометров, типы используемых приставок к ним. Планирование дифракционного эксперимента. Эталонные образцы. Погрешности и систематические ошибки дифракционного эксперимента. Повышение точности эксперимента.Основы профильного анализа. Основные методы определения структурно-фазовых характеристик. Инструментальный фактор и фактор образца. . Уширение дифракционных линий за счет малого размера ОКР (формула Селякова-Шеррера, её ограничения) и микронапряжений (формула Стокса-Уилсона). Разделение вкладов размера ОКР и микронапряжений. Метод Вильямсона-Холла. Прецизионные методы определения параметров элементарной ячейки. Методы экстраполяции. Качественный фазовый анализ. Работа с базой данных ICDD. Чувствительность метода. Понятие о количественном фазовом анализе. Метод малоуглового рассеяния.
- Добавил в систему: Авдюхина Валентина Михайловна