Аннотация:Методом MOCVD cинтезированы тонкие пленки LuFeO3, (Lu,Zr)FeO3 и (Lu,Са)FeO3 на монокристаллических подложках YSZ(111). Их структура и морфология поверхности исследованы с помощью различных методов рентгеновской дифракции, дифракции обратно-отраженных электронов, атомно-силовой микроскопии,рамановской спектроскопии и сканирующей электронной микроскопии. Установлен необычный эффект стабилизации пленок гексагонального ортоферрита на подложках YSZ(100), имеющих кубическую симметрию.