Аннотация:Кириллов В.П. выполнял бакалаврскую работу в группе фотовольтаики отдела микроэлектроники НИИЯФ МГУ, в которой ведутся разработки и исследования перспективных конструкций солнечных элементов, изготавливаемых из пластин кристаллического кремния. Ключевым элементом этих конструкций являются пленки прозрачных проводящих оксидов, в частности, на основе оксида индия и оксида цинка, которые, в том числе, служат антиотражающим покрытием. Показатель преломления этих пленок является важным параметром, влияющим на отражение света и, соответственно, на эффективность солнечного элемента. Для измерения показателя преломления используют метод спектральной эллипсометрии. Относительно недавно мы получили возможность доступа к современному, дорогостоящему эллипсометру и было принято решение предложить Кириллову В.П. тему бакалаврской работы, связанную с методом спектральной эллипсометрии.