Аннотация:В работе изложены основные принципы использования вейвлет-преобразования для анализа и интерпретации кривых зеркального отражения рентгеновского излучения от многослойных структур, характеризующихся межслойными шероховатостями. В работе показано, что исследование вейвлет-коэффициентов, полученных из экспериментальной кривой зеркального отражения,позволяет определить как вклад конкретного интерфейса в кривую зеркального отражения, так и среднеквадратичную амплитуду межслойной шероховатости этого интерфейса.