Организация, в которой проходила защита:
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
Год защиты:2018
Аннотация:В выпускной квалификационной работе исследовано влияние длины молекул поверхностного лиганда квантовых точек (КТ) PbS на электронные свойства тонких слоев конденсатов этих КТ. Были изучены структура и оптические свойства тонких слоев конденсатов квантовых точек. Также были освоены четырехконтактный метод измерения электропроводности и метод CELIVдля измерения подвижности носителей заряда. В ходе работы были получены тонкие слои КТ, проведены измерения их проводимости (четырехконтактным методом) и подвижности носителей заряда (метод CELIV). По измеренным величинам установлена связь между проводимостью, подвижностью и длиной молекул лиганда. Работа изложена на 36 страницах, содержит 17 рисунков и список литературы из 16 наименований.