Аннотация:Методами ИК-спектроскопии в режимах зеркального отражения, пропускания и нарушенного полного внутреннего отражения проведено исследование дополнительно легированных слоев кремниевых нанонитей различной толщины, выращенных методом металл-стимулированного химического травления. Определена концентрация и время рассеяния квазиимпульса свободных дырок. Показана перспективность применения метода НПВО для диапазона концентраций свободных носителей в массивах кремниевых нанонитей 8Е18-3Е19.