Аннотация:На полупроводниковых образцах твердых раcтворов In1-xGaxTe и InTe1-xSex в широком интервале температур выполнены измерения сопротивления, фотопроводимости, а также сняты вольт-амперные характеристики. При температурах ниже 90-100 К наблюдался значительный сигнал фотопроводимости, а при температурах ниже 140-150 К - эффект переключения образцов сильным электрическим полем в долгоживущее низкоомное состояние. Наблюдение законов Мотта свидетельствует о существенности процессов локализации в исследованных материалах.