Организация, в которой проходила защита:
Моско́вский авиацио́нный институ́т (национальный исследовательский университет)
Год защиты:2019
Аннотация:В работе была исследована зависимость критического напряжения
отслаивания покрытий от податливости материалов основания и пленки.
Были получены расчетные формулы для вычисления критического
напряжения в случае малых значений управляющего параметра.