Особенности структурных и магнитных свойств «толстых» железо-обогащенных аморфных микропроводов, полученных методом Улитовского-Тейлорадипломная работа (Специалист)
Аннотация:Представлены результаты исследования структурных и магнитных свойств железо-обогащенных толстых микропроводов в стеклянной оболочке, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского-Тейлора.