Аннотация:Работа состоит из двух частей: 1)наблюдение фоторефракции в видимой области; 2) измерение дисперсионных кривых действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости кристаллов Sn2P2S6 (SPS) в терагерцовой области при различных температурах (включая температуру фазового перехода). Кольцевая структура излучения при прохождении лазерного луча через кристалл Sn2P2S6 наблюдалась впервые. Коническая рефракция от кристалла была всесторонне исследована: определены зависимости кинетики развития процесса от плотности мощности излучения, от ориентации кристалла. Специальная модель использовалась для объяснения результатов измерений.
Вторая часть работы – терагерцовая спектроскопия временного разрешения. В результате измерений выявлены три собственных колебания кристалла и определено их влияние на дисперсию диэлектрической проницаемости в области 0,1 – 0,4ТГц.