|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Изучение влияния параметров профиля рельефа дифракционной решетки, сформированной на никелевой матрице, на ее дифракционную эффективностьдипломная работа (Специалист)
- Научный руководитель: Семенов М.В.
- Автор: Сергиенко А.М.
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет МГУ имени М.В. Ломоносова, кафедра общей физики
- Год защиты: 2013
- Аннотация: В дипломной работе рассматриваются современные проблемы объективного контроля производственного процесса записи и выпуска голографической продукции, в частности, защитных голограмм, на предприятии ОАО НПО “Криптен". А.М. Сергиенко была собрана оптическая установка для измерения дифракционной эффективности голограмм на разных этапах процесса их производства, а также использованы современный атомно-силовой микроскоп для изучения микроскопического профиля дифракционных решеток в дот-матрикс-фреймах голограмм и оптический микроскоп для исследования общей структуры рельефа голограмм в различных зонах. А.М. Сергиенко провел грамотный анализ полученных результатов и выдал практические рекомендации для оптимизации производственного процесса, которые будут учтены при дальнейшей работе предприятия.
- Добавил в систему: Семенов Михаил Владимирович