Изучение влияния параметров профиля рельефа дифракционной решетки, сформированной на никелевой матрице, на ее дифракционную эффективностьдипломная работа (Специалист)
Организация, в которой проходила защита:МГУ имени М.В. Ломоносова,
Физический факультет МГУ имени М.В. Ломоносова, кафедра общей физики
Год защиты:2013
Аннотация:В дипломной работе рассматриваются современные проблемы объективного контроля производственного процесса записи и выпуска голографической продукции, в частности, защитных голограмм, на предприятии ОАО НПО “Криптен". А.М. Сергиенко была собрана оптическая установка для измерения дифракционной эффективности голограмм на разных этапах процесса их производства, а также использованы современный атомно-силовой микроскоп для изучения микроскопического профиля дифракционных решеток в дот-матрикс-фреймах голограмм и оптический микроскоп для исследования общей структуры рельефа голограмм в различных зонах. А.М. Сергиенко провел грамотный анализ полученных результатов и выдал практические рекомендации для оптимизации производственного процесса, которые будут учтены при дальнейшей работе предприятия.