Организация, в которой проходила защита:
Московский институт электроники и математики им. А.Н. Тихонова Национального исследовательского университета "Высшая школа экономики" (МИЭМ НИУ ВШЭ)
Год защиты:2017
Аннотация:В данной работе исследуется роль вторичной эмиссии в процессе электризации космического аппарата. Целью работы - выявление количественных закономерностей влияния вторично - эмиссионных токов на величину потенциала космического аппарата при его электризации в окружающей плазме. Компьютерное моделирование и расчет электризации поверхности космического аппарата проводились с помощью программы Coulomb-2. Расчет величины заряжения происходил при варьировании вторично-эмиссионных свойств материалов поверхности и изменения параметров окружающей плазмы. Полученные расчетные результаты могут помочь модернизировать поверхность космического аппарата, снижая достигаемый потенциал и уменьшая вероятность разрядов.