|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Методы измерения поверхностных потенциалов диэлектриков при электронном облучении в сканирующем электронном микроскопедипломная работа (Бакалавр)
- Научный руководитель: Рау Э.И.
- Автор: Подбуцкий Николай Георгиевич
- Тип: Бакалавр
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Год защиты: 2017
- Аннотация: Предложены и практически проверены эффективные и простые методы измерения поверхностных потенциалов диэлектриков внутри электронного микроскопа.
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович