|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Использование методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения поверхностного распределения зарядов в наноструктурахдипломная работа (Специалист)
- Научный руководитель: Трифонов А.С.
- Автор: Бритов Д.Р.
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Год защиты: 2014
- Аннотация: В данной работе речь пойдет о создании принципиально нового сканирующего микроскопа, позволяющего измерять распределение электрического заряда на поверхности исследуемого образца с уникальной чувствительностью. В его основу положен метод сканирования камертоном (tuning fork), который позволил в качестве сенсора использовать макроскопический зарядовый сенсор на основе полевого транзистора с каналом - нанопроводом. Так же будут рассмотрены различные методики работы методом сканирования камертоном, определены оптимальные параметры сканирования и дана сравнительная характеристика уже известных методов измерения распределения электрического потенциала.
- Добавил в систему: Трифонов Артем Сергеевич