|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Детерминированный подход к фрактальному анализу систем наночастиц курсовая работа (Специалист)
- Научный руководитель: Рыжикова Ю.В.
- Автор: Гридчина В.В.
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Кафедра: Кафедра оптики, спектроскопии и физики наносистем
- Год защиты: 2015
- Курс: 5
- Аннотация: В настоящей работе проводится анализ скейлинговых характеристик нанокластерных образований звездного типа на основе детерминированного подхода к исследованиям фрактальных объектов. При этом сопоставляются скейлинговые свойства геометрических параметров анализируемых объектов и картин дифракции зондирующего излучения. Результаты исследований указывают на наличие определенной взаимосвязи между скейлингом в различных пространственных распределениях наночастиц и их фурье-спектрами.
- Добавил в систему: Рыжикова Юлия Владимировна