Сравнение многомерной и одномерной регрессии при определении кремния в нержавеющих сталях методом лазерно-искровой эмиссионной спектрометриикурсовая работа (Специалист)
Аннотация:Целями настоящей работы являлись проверка возможности использования линии Si I 212,41 нм, по литературным данным ранее не применявшейся при анализе сталей, а также метода главных компонент (МГК)при построении градуировки для определения кремния в высоколегированных нержавеющих сталях в двух спектральных диапазонах (в окрестности линий Si I 212,41 нм и Si I 288,16 нм). В рамках данной цели были поставлены следующие задачи: подбор оптимальных условий регистрации эмиссионного аналитического сигнала линий кремния, построение классических одномерных прямых градуировок с использованием стандартных образцов, построение и проверка адекватности регрессионной модели, полученной с использованием МГК, и сопоставление между собой всех полученных результатов.