|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Применение рентгеноспектрального микроанализа для определения толщин пленок оксида иттрия на металлической подложке NiMoкурсовая работа (Специалист)
- Научный руководитель: Харченко А.В.
- Автор: Пугач А.В.
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Кафедра: Кафедра аналитической химии
- Год защиты: 2013
- Курс: 2
- Аннотация: В работе разрабатывается методика измерения аморфных слоев оксида иттрия с помощью метода растровой электронной микроскопии. Для этого получена градуировочная зависимость, опирающаяся на стандарты, толщины которых измерены прямым методом растровой электронной микроскопии.
- Добавил в систему: Харченко Андрей Васильевич