ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИПМех РАН |
||
Впервые по прецизионным рентгендифракционным данным построены мультипольные модели силикатов топаза и фенакита. Получены топологические характеристики электронной плотности, которые позволяют количественно характеризовать химические связи, а также размеры эффективных радиусов атомов. Проведено сравнение плотностных и потенциальных характеристик. Рассмотрена плотнейшая упаковка топаза в терминах топологии, обнаружено, что однородность потенциала в канале фенакита не создает условия для локализации примесей. Исправлены и дополнены программы мультипольного и топологического анализа,а также разработаны дополнения.