ИСТИНА

Диссертационная работа посвящена исследованию взаимодействия электромагнитного излучения оптического диапазона с поверхностными наноструктурами методом сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (СОМБП), с пространственным оптическим разрешением, значительно превосходящим дифракционный предел. В процессе выполнения диссертационной работы получены следующие основные результаты: 1. Создана экспериментальная установка СОМБП модульной конструкции для исследования абсорбционных, люминесцентных и поляризационных свойств наноструктур с оптическим разрешением вплоть до 30 нм, топографическим разрешением 0.3 нм, чувствительностью к силе воздействия 0.4 нН и с чувствительностью к углу вращения плоскости поляризации: 0,8гр. в статическом режиме и 0,2гр. в динамическом. Модульная конструкция позволяет реализовать все известные режимы работы СОМБП в проходящем/отраженном свете, а также в режиме фотонный сканирующий туннельной микроскопии. 2. Разработана методика изучения трехмерного распределения ЭМП вблизи наноструктур. 3. Впервые методом СОМБП обнаружен эффект формирования оптических вихрей, возникающих при прохождении излучения через металлизированные наноструктуры. 4. Изучено распределение ортогонально поляризованных компонент электромагнитного поля вблизи отверстия в металлической пленке диаметром 50-150 нм и показано качественное различие в их локализации. 5. Впервые, методом СОМБП, изучены особенности и тонкая структура магнитных доменов и доменных границ в тонких пленках ферритов-гранатов с помощью анализа поляризации локально собранного зондом излучения, прошедшего через образец.