ИСТИНА

Исследована электронная структура поверхности кристалла NaCl методами спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (СХПЭ) и Оже-электронной спектроскопии (ОЭС). Энергия зондирующих электронов в СХПЭ выбиралась в пределах 100-200 эВ, что соответствовало длине свободного пробега 10-20 A. В этом методе по спектру рассеянных электронов находилась функция потерь и далее с использованием теоремы Крамерса-Кронига определялся профиль электронных состояний. В методе ОЭС по форме Оже-линий с использованием самосвертки также определялась плотность электронных состояний. Установлена возможность резонансной перезарядки ионов Ar+, N+ и N2+ на поверхности кристалла. Исследования открывают перспективу развития метода диагностики электронной структуры поверхности и зарядового состояния по закономерностям рассеяния медленных ионов. Заложены физические основы прогнозирования условий ионной стимуляции на поверхности твердого тела.