Вернуться к списку оборудования

Установка для измерения электрофизических параметров наноматериалов


Тип: Комплексы научного оборудования / Измерительные комплексы
Подразделение: Кафедра общей физики и молекулярной электроники
Начало эксплуатации: 1 января 2004
Идентификатор: 536865918

Технические характеристики: Технические характеристики: Диапазон температур: T=4 K - 450 K. Точность определения температуры: 1 К. Диапазон частот при измерениях на перемен-ном сигнале: f=5 Гц - 13 МГц. Точность регулировки частоты переменного сигнала: 1 Гц. Диапазон подаваемых напряжений: U=0 В - 500 В. Диапазон измеряемых токов на постоянном сигнале: I=10 фА - 20 мА. Диапазон измерения сопротивления на переменном сигнале: R=1 Ом - 1 МОм. Диапазон измерения емкости: С=1пФ - 100мФ. Диапазон измерения индуктивности: L=100нГн - 1000Гн. Вакуум до 10-5 Торр. Криостаты: минимальная темп.: Тmin=4.2 К Время охл. до Тmin: T=65 мин. Точн. контроля 0.001 К Назначение: Электрофизических измерения параметров наноструктур в т.ч. при низких температурах. Производитель: Alcatel, Франция Advanced Research Systems, Inc., США Год выпуска: 2004
Список ответственных за данное оборудование: В состав комплекса входит следующее оборудование:
Тип Название
Записей нет

Прикрепленные файлы


Имя Описание Имя файла Размер Добавлен
1. Иллюстрация Общий вид p1010002_1.jpg 28,0 КБ 18 февраля 2023 [Dmitriy1815]

Научные работы: