Вернуться к списку ЦКП

ЦКП УН/О "Электронная микроскопия для исследования материалов"


Краткое название: ЭМ-вещество
Тип: Комплексы научного оборудования / Комплексы микроскопии
Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
Идентификатор: 131564548

Технические характеристики: 1. ПЭМ "Carl Zeiss Libra 200", пр-во ФРГ, 2012 г., отв. Путляев В.И., оператор Гаршев А.В., ФНМ, корпус РХ 1 этаж. ИСТИНА+. Аналитические исследования, подготовка проб. 2. ПЭМ ВР "JEOL 2100 F", пр-во Япония, 2007 г., отв. Савилов С.В., оператор Егоров А.В., Химический факультет, корпус РХ цокольный этаж. ИСТИНА+. Исследования с высоким разрешением, аналитические, функция томографии, температурные исследования, дифракционные исследования, подготовка проб (кроме ламелей). 3. ПЭМ "LEO 912 AB", пр-во Великобритания, 2002 г., отв. Абрамчук С.С., оператор Абрамчук С.С., Физический факультет, лабораторный корпус А, 2 этаж. ИСТИНА+. Исследования без высокого разрешения, дифракционные исследования. II. Cканирующие 1. СЭМ "FEI QUANTA", пр-во Нидерланды, 2011 г., отв. Сысоев Н.Н., оператор н/д, Физический факультет, дворовый корпус. ИСТИНА+. Морфологические и аналитические исследования, подготовка проб. 2. CЭМ " Carl Zeiss SUPRA 40", пр-во ФРГ, 2005 г., отв. Крупенин В.А., оператор н/д, Физический факультет, корпус физического факультета. ИСТИНА+. Морфологические и аналитические исследования. 3. CЭМ " Carl Zeiss SUPRA 50", пр-во ФРГ, 2005 г., отв. Калмыков К.Б., оператор Калмыков К.Б., Химический факультет, корпус химического факультета. Морфологические исследования. 4. СЭМ " Carl Zeiss SUPRA 50", пр-во ФРГ, 2003 г., отв. Путляев В.И., оператор Кнотько А.В., ФНМ, корпус химического факультета. Морфологические и аналитические исследования c высоким разрешением. ИСТИНА+. 5. СЭМ "TESCAN LYRA 3", пр-во Чехия, 2012 г., отв. Чеченин Н.Г., оператор н/д, НИИЯФ, 19-й корпус МГУ. Морфологические и аналитические исследования. ИСТИНА+. 6. ОЭМС "Kratos Axis Ultra DLD", пр-во Великобритания, 2011 г., отв. Савилов С.В., оператор Маслаков К.И., Химический факультет, корпус РХ цокольный этаж. ИСТИНА+. Исследования рентгеновских фотоэлектронных спектров, визуализация поверхности с низким разрешением, функция ОЖЕ спектрометрии. 7. СЭМ " JEOL 6480", пр-во Япония, 2006 г., отв. Зиновьева Н.Г., оператор н/д, геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические и аналитические исследования. ИСТИНА+ 8. ЭЗА " JEOL 8230", пр-во Япония, 2013 г., отв. Зиновьева Н.Г., оператор н/д, геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические с низким разрешением и аналитические исследования по спектрам характеристического рентгеновского излучения. ИСТИНА+ 9. СЭМ " LEO 1450", пр-во Великобритания, 2004 г., отв. Соколов В.Н., оператор Япаскурт В.О., геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические и аналитические исследования c высоким разрешением. ИСТИНА+ 10. СЭМ " HITACHI 3030", пр-во Япония, 2015 г., отв. Ениосова Н.В., оператор н/д, исторический факультет , Шуваловский корпус. Морфологические исследования. ИСТИНА+. III. Обучающие 1. Межфакультетский практикум по сканирующей электронной микроскопии на базе 6 СЭМ "JEOL Neoscope 6000", пр-во Япония, 2014 г., отв. Савилов С.В., сотрудники Черняк С.А., Шумянцев А.В., Дворяк С.В. Химический факультет, корпус химического факультета. ИСТИНА+. Морфологические исследования, аналитические функции, напылительная установка для подготовки проб
Расписание:

Адрес:

МГУ, химический, физический факультеты. НИИЯФ, НИИФХБ, ФНМ

В состав ЦКП входят следующие комплексы:
Тип Название
Комплексы научного оборудования Система анализа поверхности твердых тел на базе спектрометра KRATOS AXIS Ultra DLD [0275-44-2022, 1801-2011]
Комплексы научного оборудования Комплекс микроанализа наноструктурированных образцов на основе сканирующего электронного микроскопа LEO 1430 vp с приставкой для рентгеновского элементного анализа INCA (Oxford)
Комплексы микроскопии Комплектующие для электронного микроскопа JEOL
Другие комплексы научного оборудования Настольный ЯМР-спектрометр NMReady 60 Pro [0993-44-2023]

Научные работы: