Вернуться к списку ЦКП

ЦКП УН/О "Электронная микроскопия для исследования материалов"


Краткое название: ЭМ-вещество
Тип: Комплексы научного оборудования / Комплексы микроскопии
Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
Идентификатор: 131564548

Технические характеристики: 1. ПЭМ "Carl Zeiss Libra 200", пр-во ФРГ, 2012 г., отв. Путляев В.И., оператор Гаршев А.В., ФНМ, корпус РХ 1 этаж. ИСТИНА+. Аналитические исследования, подготовка проб. 2. ПЭМ ВР "JEOL 2100 F", пр-во Япония, 2007 г., отв. Савилов С.В., оператор Егоров А.В., Химический факультет, корпус РХ цокольный этаж. ИСТИНА+. Исследования с высоким разрешением, аналитические, функция томографии, температурные исследования, дифракционные исследования, подготовка проб (кроме ламелей). 3. ПЭМ "LEO 912 AB", пр-во Великобритания, 2002 г., отв. Абрамчук С.С., оператор Абрамчук С.С., Физический факультет, лабораторный корпус А, 2 этаж. ИСТИНА+. Исследования без высокого разрешения, дифракционные исследования. II. Cканирующие 1. СЭМ "FEI QUANTA", пр-во Нидерланды, 2011 г., отв. Сысоев Н.Н., оператор н/д, Физический факультет, дворовый корпус. ИСТИНА+. Морфологические и аналитические исследования, подготовка проб. 2. CЭМ " Carl Zeiss SUPRA 40", пр-во ФРГ, 2005 г., отв. Крупенин В.А., оператор н/д, Физический факультет, корпус физического факультета. ИСТИНА+. Морфологические и аналитические исследования. 3. CЭМ " Carl Zeiss SUPRA 50", пр-во ФРГ, 2005 г., отв. Калмыков К.Б., оператор Калмыков К.Б., Химический факультет, корпус химического факультета. Морфологические исследования. 4. СЭМ " Carl Zeiss SUPRA 50", пр-во ФРГ, 2003 г., отв. Путляев В.И., оператор Кнотько А.В., ФНМ, корпус химического факультета. Морфологические и аналитические исследования c высоким разрешением. ИСТИНА+. 5. СЭМ "TESCAN LYRA 3", пр-во Чехия, 2012 г., отв. Чеченин Н.Г., оператор н/д, НИИЯФ, 19-й корпус МГУ. Морфологические и аналитические исследования. ИСТИНА+. 6. ОЭМС "Kratos Axis Ultra DLD", пр-во Великобритания, 2011 г., отв. Савилов С.В., оператор Маслаков К.И., Химический факультет, корпус РХ цокольный этаж. ИСТИНА+. Исследования рентгеновских фотоэлектронных спектров, визуализация поверхности с низким разрешением, функция ОЖЕ спектрометрии. 7. СЭМ " JEOL 6480", пр-во Япония, 2006 г., отв. Зиновьева Н.Г., оператор н/д, геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические и аналитические исследования. ИСТИНА+ 8. ЭЗА " JEOL 8230", пр-во Япония, 2013 г., отв. Зиновьева Н.Г., оператор н/д, геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические с низким разрешением и аналитические исследования по спектрам характеристического рентгеновского излучения. ИСТИНА+ 9. СЭМ " LEO 1450", пр-во Великобритания, 2004 г., отв. Соколов В.Н., оператор Япаскурт В.О., геологический факультет , ГЗ МГУ. Морфологические и аналитические исследования c высоким разрешением. ИСТИНА+ 10. СЭМ " HITACHI 3030", пр-во Япония, 2015 г., отв. Ениосова Н.В., оператор н/д, исторический факультет , Шуваловский корпус. Морфологические исследования. ИСТИНА+. III. Обучающие 1. Межфакультетский практикум по сканирующей электронной микроскопии на базе 6 СЭМ "JEOL Neoscope 6000", пр-во Япония, 2014 г., отв. Савилов С.В., сотрудники Черняк С.А., Шумянцев А.В., Дворяк С.В. Химический факультет, корпус химического факультета. ИСТИНА+. Морфологические исследования, аналитические функции, напылительная установка для подготовки проб
Расписание:

Адрес:

МГУ, химический, физический факультеты. НИИЯФ, НИИФХБ, ФНМ

В состав ЦКП входят следующие комплексы:
Тип Название
Комплексы научного оборудования Система анализа поверхности твердых тел на базе спектрометра KRATOS AXIS Ultra DLD
Комплексы научного оборудования Комплекс микроанализа наноструктурированных образцов на основе сканирующего электронного микроскопа LEO 1430 vp с приставкой для рентгеновского элементного анализа INCA (Oxford)

Научные работы: