| Технические характеристики: |
ЦКП обеспечивает проведение учебных занятий и научных исследований в следующих областях:
─ локальный количественный и качественный рентгеноспектральный анализ (кристалл-дифракционный и энерго-дисперсионный) минерального вещества и неорганических материалов;
─ построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов;
─ анализ легких элементов;
─ количественный анализ малых содержаний элементов;
─ исследование структуры поверхности образца;
─ изучение структурных взаимоотношений минералов с параллельным проведением их анализа;
─ получение изображения в режиме вторичных и отраженных электронов;
─ осуществление анализа и обработки изображений.
ЦКП образован на базе лаборатории локальных методов исследования вещества (кафедра петрологии геологического факультета МГУ) и находится в Главном здании МГУ на 5 этаже в комнате 505.
ЦКП объединяет микрозондовый комплекс (JSM-6480LV с комбинированной системой микроанализа Oxford Nordlys Max2 / Inca Wave 500) и электронно-зондовый микроанализатор (Superprobe JXA-8230).
В состав микрозондового комплекса входит сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-6480LV (производство фирмы Jeol, Япония) с вольфрамовым термоэмиссионным катодом с диапазоном ускоряющих напряжений от 200 В до 30 кВ и возможностью получения электронных изображений во вторичных (разрешение до 10 нм) и обратно рассеянных электронах. Комплекс оснащен комбинированной системой микроанализа, сочетающей энергодисперсионный и волновой дифракционный спектрометры (производство Oxford instruments, Великобритания) с возможностью локального рентгеноспектрального микроанализа химических элементов от B до U включительно. Локальность измерения - до 3 - 5 микрон, пороги обнаружения - до 0,01 массовых %. Программное обеспечение позволяет проводить работы в ручном и полуавтоматическом режимах, выполнять построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов. Краткое название и цифровой идентификатор комплекса в ИАС «ИСТИНА»: Микроанализатор JSM-6480LV, № 15229472.
Электронно-зондовый микроанализатор Superprobe JXA-8230 (производство фирмы Jeol, Япония) предназначен для комплексного энерго-дисперсионного и кристалл-дифракционного микроанализа. В его состав входят: ED-спектрометр (разрешение 129eV) и пять WD-спектрометров: 1-двухканальный XCE-типа (с кристаллами LIF, PET), 2-двухканальный XCE-типа (с кристаллами TAP, LDE1), 3-H-типа (с кристаллами LIFH, PETH), 4-XCE-типа (с кристаллами LIF, PET), 5-XCE-типа (с кристаллами TAP, LDE2). Программное обеспечение позволяет проводить качественный и количественный микроанализ фаз, выполнять построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов. Краткое название и цифровой идентификатор комплекса в ИАС «ИСТИНА»: Jeol JXA-8230, № 9400927.
|
| Расписание: |
Список измерений, выполняемых на оборудовании
центра коллективного пользования учебно-научным оборудованием «Электронно-зондовый микроанализ минерального вещества»
Использование микрозондового комплекса (JSM-6480LV с комбинированной системой микроанализа Oxford Nordlys Max2 / Inca Wave 500) и электронно-зондового микроанализатора (Superprobe JXA-8230) позволяет осуществлять:
1. Локальный количественный и качественный рентгеноспектральный анализ (кристалл-дифракционный и энерго-дисперсионный) минерального вещества и неорганических материалов.
2. Построение топохимических профилей и концентрационных карт распределения химических элементов.
3. Анализ легких элементов.
4. Количественный анализ малых содержаний элементов.
5. Исследование структуры поверхности образца.
6. Изучение структурных взаимоотношений минералов с параллельным проведением их анализа.
7. Получение микрофотографий в режиме вторичных и обратно-рассеянных электронов.
8. Анализ и обработка изображения.
|
| Адрес: |
Местонахождение и адрес ЦКП (Главное здание МГУ, 5 этаж, комната 505; 119234 Москва, Ленинские горы, Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, Головным подразделением ЦКП является МГУ имени М.В.Ломоносова.
|
|
