Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Probe Microscopy
журнал
Индексирование: нет
Период активности журнала: не указан
Добавил в систему:
Ефимов Антон Евгеньевич
Статьи, опубликованные в журнале
1999
Spm tip visualization through deconvolution using various characterizers: optimization of the protocol for obtaining true surface topography from experimentally acquired images
Markiewicz P.
,
Cohen S.R.
, Efimov A.,
Ovchinnikov D.V.
,
Bukharaev A.A.
в журнале
Probe Microscopy
, том 1, с. 355