Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Microscopy and analysis (UK)
журнал
Индексирование: нет
Период активности журнала: не указан
Добавил в систему:
Осколок Кирилл Владимирович
Статьи, опубликованные в журнале
2003
Surface morphology characterization using TXRF and SEM
Alov N.V.
,
Oskolok K.V.
в журнале
Microscopy and analysis (UK)
, том 93, с. 7-9