|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Способ выявления патологических очагов в спинном мозге при рассеянном склерозепатент
- Авторы: Китаев С.В., Кротенкова М.В., Брюхов В.В., Куликова С.Н.
- Номер: 2472433
- Дата публикации патента: 2 декабря 2011 г.
- Добавил в систему: Брюхов Василий Валерьевич