|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
X-Ray Backscatter Inspection Systemпатент
- Авторы: Arodzero Anatoli, Kutsaev Sergey V., Ziskin Vitaliy
- Номер: US10481113B2
- Дата публикации патента: 19 ноября 2019 г.
- Добавил в систему: Куцаев Сергей Викторович