|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Калибровочный эталон для профилометров и сканирующих зондовых микроскоповпатент
- Авторы: Мешков Г.Б., Яминский Д.И., Яминский И.В.
- Номер: 2538029
- Дата публикации патента: 10 января 2015 г.
-
Реферат (описание изобретения):
Заявка: 2013130175/28 от 03.07.2013. Положительное решение о выдаче патента на изобретение от 14.08.2014
- Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович