ИСТИНА

Леесмент Станислав Игоревич пользователь

ООО "НТ-МДТ"

Соавторы: Быков В.А., Karban O.V., Kutrovskaya S., Onufrievich A., Platitsina P., Prokoshev V.G., Zharkov V.V., Аракелян С.М., Бобров Ю.А., Бобров ю.г., Иноземцев В.А., Козлов А.П., Коныгин Г.Н. показать полностью..., Котов В.М., Кучерик А.О., Лямин А.Н., Ляпунова С.С., Перевозчиков П.А., Поляков В.И., Самарцев С.А., Сергунова В.А., Троицкий Д.П., Шерстюкова Е.А.

3 статьи, 2 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 0, Scopus: 0

IstinaResearcherID (IRID): 363741931

ResearcherID: D-6628-2014

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2022 Investigation of Red Blood Cells by Atomic Force Microscopy
    • Sergunova Viktoria, Leesment Stanislav, Kozlov A.P., Inozemtsev Vladimir, Platitsina Polina, Lyapunova Snezhanna, Onufrievich Alexander, Polyakov Vyacheslav, Sherstyukova Ekaterina
    • в журнале Sensors, издательство MDPI (Basel, Switzerland), том 22, № 5, с. 2055 DOI
  • • 2011 Применение методов фрактальной геометрии для управления качеством измерений атомно-силового микроскопа
    • Аракелян С.М., Быков В.А., Кутровская С.В., Кучерик А.О., Леесмент С.И., Троицкий Д.П., Прокошев В.Г.
    • в журнале Химическая физика и мезоскопия, издательство Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Удмуртский федеральный исследовательский центр Уральского отделения Российской академии наук" (Ижевск), том 13, № 1, с. 63-71
  • • 2009 СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ В ИЗУЧЕНИИ РЕГЕНЕРАЦИИ ТКАНЕЙ ПРИ СКЛЕРОПЛАСТИЧЕСКИХ ОПЕРАЦИЯХ В ОФТАЛЬМОЛОГИИ
    • Жаров В.В., Лялин А.Н., Карбань О.В., Перевозчиков П.А., Самарцева Н.Н., Коныгин Г.Н., Леесмент С.И.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), с. 69-74

• Тезисы докладов

  • • 2020 From first STM to complex analysis systems - 30 years' experience of R&D and production of metrological equipment
    • Bykov Victor, Polyakov Vyacheslav, Bykov Andrey V., Kotov Vladimir, Leesment Stanislav, Bobrov Yuri
    • в сборнике Fifth Asian School-Conference on Physics and Technology of Nanostructured Materials ASCO-NANOMAT 2020, место издания Dalnauka Publishing г. Владивосток, тезисы
  • • 2020 Possibilities of metrological systems of atomic force microscopy for research, development and control of parameters of micro and nanoelectronic products
    • Bykov V.A., Bykov A.V., Bobrov Y.A., Kotov V.V., Leesment S.I., Polyakov V.V.
    • в сборнике МЭС-2020, место издания FSFIS Institute for Design Problems in Microelectronics RAS, тезисы, с. 187-192 DOI