|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Проведение теоретических и экспериментальных исследований по анализу отказов в микроэлектроникеНИР
Theoretical and experimental studies on failure analysis in microelectronics
- Руководители НИР: Уваров А.В., Хахалин А.В.
- Участники НИР: Антонович А.Н., Градобоева О.Н., Караулов В.Ю., Кутлов Г.Г., Лапин Д.Г., Лапин Д.Г., Сысоев П.Н.
- Подразделение: Кафедра молекулярных процессов и экстремальных состояний вещества
- Срок исполнения: 1 августа 2016 г. - 31 июля 2019 г.
- Номер договора (контракта, соглашения): 123/16-Б 011-2016
- Тип: Прикладная
- Приоритетное направление научных исследований: Информационно-телекоммуникационные системы
- ПН России: Информационно-телекоммуникационные системы
-
Рубрики ГРНТИ:
- 47.13.85 Ремонт и эксплуатационное обслуживание радиоэлектронной аппаратуры
-
Ключевые слова:
рентгеновский анализ, инфракрасная спектроскопия, энергодисперсионный анализ
x-ray analysis, edx, ir spectroscopy, non-destructive testing - Добавил в систему: Уваров Александр Викторович
Источник финансирования НИР
| Хоздоговор, ООО Сертал |
Этапы НИР
| # | Сроки | Название |
| 1 | 1 августа 2016 г.-31 июля 2017 г. | Проведение теоретических и экспериментальных исследований по анализу отказов в микроэлектронике |
| Результаты этапа: | ||
| 2 | 1 августа 2017 г.-31 октября 2018 г. | Проведение теоретических и экспериментальных исследований по анализу отказов в микроэлектронике |
| Результаты этапа: | ||
Прикрепленные к НИР результаты
Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".