|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Спектроскопия протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов для количественного анализа локальной атомной структуры сверхтонких оксидных пленок на поверхности 3статья Исследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Гай Д.Е., Гребенников В.И., Бакиева О.Р., Сурнин Д.В., Деев А.Н.
- Журнал: Журнал структурной химии
- Том: 49
- Номер: 57
- Год издания: 2008
- Издательство: Изд-во СО РАН
- Местоположение издательства: Новосибирск
- Первая страница: 174
- Последняя страница: 189
- Аннотация: В работе представлено теоретическое описание процессов формирования протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов - EELFS (Electron Energy Loss Fine Structure), получены простые аналитические формулы для расчета EELFS спектров. Предложены методы расчетов амплитуд и интенсивностей электронных переходов различной мультипольности при возбуждении внутреннего уровня атома вещества электронным ударом и проведены соответствующие тестовые расчеты. Представлены экспериментальные M 2,3-спектры EELFS 3 d -металлов, полученные с чистых поверхностей Fe, Ni и Cu и сверхтонких стехиометрических оксидных пленок Fe 2O 3, NiO и CuO, а также K -спектры EELFS кислорода с тонких стехиометрических оксидных пленок. Предложены методики выделения нормированных осциллирующих частей из экспериментальных EELFS-данных, основанные на использовании расчетных интенсивностей соответствующих электронных переходов. Получены атомные парные корреляционные функции исследуемых объектов из экспериментальных данных EELFS с учетом мультипольности процессов возбуждения внутреннего уровня атома электронным ударом. Экспериментальные результаты хорошо соответствуют известным кристаллографическим данным (парциальные межатомные расстояния, координационные числа и факторы Дебая-Валлера).
- Добавил в систему: Бакиева Ольга Ринатовна