|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detectorстатья Глава в книге
- Авторы: Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
- Сборник: X-Ray Lasers 2016
- Серия: Springer Proceedings in Physics
- Том: 202
- Глава в коллективной монографии
- Год издания: 2018
- Место издания: Springer International Publishing
- Первая страница: 109
- Последняя страница: 115
- DOI: 10.1007/978-3-319-73025-7
- Аннотация: We present here a new diagnostics based on using LiF crystal detectors that are able to perform measurements an intensity distribution of X-rays beams with diameters ranging from some microns up to some centimetres with high spatial resolution (~1 µm). In situ, 3D visualization of SACLA XFEL focused beam profile along propagation, including propagation inside photoluminescence solid materials, is demonstrated. Also, a high spatial resolution control a quality of targets used in optical laser pump—XFEL probe HEDS experiments is proposed.
- Добавил в систему: Грум-Гржимайло Алексей Николаевич