|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИПМех РАН |
||
Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотноститезисы доклада
- Авторы: Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
- Сборник: LI I Школа ПИЯФ и молодежная конференция по физике конденсированного состояния
- Тезисы
- Год издания: 2018
- Место издания: ПИЯФ Санкт-Петербург
- Первая страница: 72
- Последняя страница: 72
- Добавил в систему: Щедрин Борис Михайлович