Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИПМех РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование локализации электромагнитного поля на периодических структурах и дефектах методом оптической микроскопии ближнего поля
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Авторы:
Ежов А.А.
,
Магницкий С.А.
,
Музыченко Д.А.
,
Панов В.И.
,
Тарасишин А.В.
Журнал:
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Номер:
11
Год издания:
2000
Издательство:
ФГБУ "Издательство "Наука"
Местоположение издательства:
Москва
Первая страница:
59
Последняя страница:
63
Добавил в систему:
Ежов Александр Анатольевич